智慧光電檢測與Trace-Pro光學設計研討會
2017-08-17
源由: 因應全球新能源發展與光電檢測半導體技術突破，帶動國內光電檢測的蓬勃發展，也相繼應 用在綠能產業的檢測上，更朝向即時、快速與高精度檢測。故舉辦一場智慧光電檢測與 Trace-Pro 光學設計研討會。研討會中將討論到最新發展太陽光電模組與 LED照明系統的檢測與法規要求，從單晶片到整合模組的檢測太陽光電模組與 LED 固態模組晶片，介紹相關的檢測規範與檢測技術發展。上午期間第一場將邀請到 中華立鼎光電股份有限公司 王仁斌經理，講授短波紅外線裝置與應用。第二場將邀請工業技術研究院/量測技術發展中心/能源與環境計量技術組 吳鴻森副組長，演講關於太陽光電與LED 照明的檢測技術發展。下午期間則由愛發股份有限公司 張緒國先生 講授 Trace-Pro 光學 軟體介紹與應用，並且演習實際案例設計說明，希望大家能夠獲得光學系統的實務設計經驗。最後感謝雲林科技大學的典範科大計畫辦公室、工程學院、電子工程系與愛發股份有限公司的全力支援。
研討會時間/地點
|
我要報名上課 |
| 研討會議程表: | ||
|---|---|---|
| 時間 | 主題 | 講師 |
| 08:30~08:50 | 報到 | |
| 08:50~09:00 | 長官致詞 (工程學院 王院長) | |
| 09:00~10:30 | SWIR device and its application (短波紅外線裝置與應用) | 中華立鼎光電股份有限公司 王仁斌 經理 |
| 10:40~12:10 | 太陽光電與 LED 照明檢測技術與規範介紹 | 工業技術研究院 / 量測中心 / 能源與環境計量技術組 吳鴻森 副組長 |
| 12:10~13:00 | 午休 (用餐時間 ES102) | |
| 13:10~14:00 | TracePro 光學軟體介紹與應用 | 愛發股份有限公司 張緒國 資深工程師 |
| 14:10~15:00 | 光學系統設計案例說明(Ⅰ) | 愛發股份有限公司 張緒國 資深工程師 |
| 15:10~16:00 | 光學系統設計案例說明(Ⅱ) | 愛發股份有限公司 張緒國 資深工程師 |
