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Proto X射線高速殘餘應力分析儀
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Proto X射線高速殘餘應力分析儀
產品介紹

加拿大Proto公司成立於1967 年,是全球主要的X射線殘餘應力分析儀製造商,技術水準一流、產品覆蓋範圍廣、市場份額高、服務能力強,是多個國際標準的積極推動者與規劃參與者。

三維三軸XRD殘餘應力和殘餘奧氏體測量系統

Proto專業生產三維三軸XRD殘餘應力和殘餘奧氏體測量系統 :

LXRD,iXRD,iXRDmini,roboXRD,mXRD,LP200(輪廓儀) Mapping,依循符合 : 歐盟標準EN15305-2008美國標準ASTM E915-2021、ASTM E2860-2020、日本標準JSMS-SD-10-2005、大陸標準GB/T 7704-2017.

有關ProtoX射線殘餘應力分析儀產品及服務的詳細資訊,請登錄專業網站 www.protoxrd.com


iXRDmini 最小緊湊便攜式X光殘餘應力分析儀

採用2個對稱稱佈置的光子計數面陣探測器(256x256圖元),速度快、精度高、穩定性好、入門價格低,能測量粗晶、織構、不平表面以及應力梯度等複雜條件下的應力。

設備採用雙 X 射線探測器、全量程測角儀,以及 sin²ψ 多次曝光技術,符合 ASTM E915(美國)、EN15305(歐盟)、JSMS-SD-10(日本)及 GB/T 7704(中國)等國際標準。採集±ψ兩個方向傾角的資料,正確計算剪切應力值。

內置50mm線性應力雲圖導軌;用戶可更換X射線管(由Proto公司設計製造), 對多種材料進行測試;測量速度快、精度高;整套設備可裝入一個旅行箱中,便於攜帶。

iXRDmini 最小緊湊便攜式X光殘餘應力分析儀
iXRDmini 最小緊湊便攜式X光殘餘應力分析儀

Proto-iXRD可攜式與實驗室-兩用X光應力儀

Proto-iXRD可攜式與實驗室-兩用X光應力儀

Proto可攜式應力儀具有速度快、結構緊湊、應用範圍廣等特點,整機重量不超過32公斤,不受被測零件尺寸限制,多關節眼鏡蛇形手臂可在被測件的上方、側面和下方進行測量。實驗室與室外兩用應力儀。

Proto-mXRD手持式X光應力儀

Proto-mXRD手持式X光應力儀

超便攜式 mXRD 將現場殘餘應力測量的多功能性提升到了一個新的水平。該系統非常適合用於管道、壓力容器和橋樑。它符合 ASTM E915 等國際標準,並可輕鬆裝入單一旅行箱中。

Proto-LXRD大功率應力儀

Proto大功率應力儀

Proto-LXRD大功率應力儀具有速度快、精度高、穩定性強等特點,可連續運行。最小光縫尺寸0.2 mm,還可以進行多晶和單晶應力測量(極圖法)。

Proto-LXRD微區應力儀

Proto-LXRD微區應力儀

Proto微區應力儀是研究級應力儀,其繞射幾何包括同傾法、側傾法、修改的側傾法等,最小光縫尺寸30 um。LXRD 雙軸是 Proto 用於殘餘應力測量的全功能最先進研究級儀器。第二個Χ(chi)軸可以測量真正的側傾法(除了歐米茄和修改後的側傾)。 XY 映射台、φ 旋轉台、視訊顯微鏡和 X 射線束孔徑尺寸(低至 30 微米)為您的微區域殘餘應力測量需求提供了先進的工具。

Proto-RoboXRD六軸機器人X光應力儀

Proto-RoboXRD六軸機器人X光應力儀

roboXRD 是一種用於靈活殘餘應力測量的創新解決方案。 roboXRD 改編自我們廣受歡迎的 iXRD 平台,將殘餘應力測量提升到一個新的水平。該系統的六軸機器人可達 1210 mm,可輕鬆、準確地測量小型和大型零件

樣品製備/配件

樣品製備/配件
樣品製備/配件

支援您的 XRD 測量的產品和配件。可㩦式高功率動態電解拋光機,標準樣品(附認證書) : 零、高應力,奧氏體(%)…等標準樣品

XRD粉末繞射儀

XRD粉末繞射儀 :

多用途粉末繞射系統,包括桌上型、緊湊型和落地型系統。AXRD Benchtop、AXRD Theta-Theta、AXRD LPD、AXRD LPD-HR、 LPD-HT

  • 相位識別定性分析(搜尋/匹配 COD 或 ICDD 資料庫)
  • 定量相分析
  • 全體擬合模式(Rietveld 精密化)
  • 結晶度百分比
  • 晶粒尺寸和應變
  • 晶格常數精密化、Miller index、Crystal system分析
  • 殘餘奧氏體、殘餘應力
  • 極圖和織構
  • 使用SPD 探測器收集的數據進行 XRF 元素分析
  • 高解析度分析:X射線反射率(XRR) 【Density , Thickness , Roughness分析】,非晶層、多晶層和單晶層均可分析。
  • 高解析度分析:搖擺曲線和倒易空間圖【RC、RSM分析 ( Mismatch ,Thickness , Composition 】
高解析度 XRD

高解析度 XRD :

用於表徵薄膜和單晶材料的卓越高分辨率 X 射線繞射儀。

單晶繞射儀

單晶繞射儀 :

用於小分子和高壓晶體學的結構分析的強大的實驗室落地系統。

勞厄單晶(Laue)

勞厄單晶(Laue) :

可客製化的晶體取向系統,用於生產和研發。
一般單晶定向解析(含Data base)和依循Turbine Industry 渦輪發動機標準【US1、US2 angles,European(UK)angles,R-Value(兩個相鄰晶粒的晶界取向)】

X射線螢光

X射線螢光 :

緊湊型 XRF系統可提高您的元素分析和高解析度Mapping映射能力。

全球800多家用戶部分典型用戶名單

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